Dimensionales Analyse-Modul auf Basis von Punktewolken mit hoher Punktdichte
Eine Anwendung für optische Sensoren, die es erlaubt Punktewolken mit großer Punkt-dichte, sowie einer hohen Genauigkeit zu erfassen, erhöht signifikant die Leistungen eines Messsystems. Die Metrologic Group bietet in der Metrolog XG Software ein komplett integriertes Modul zur Analyse dieser Punktwolken an. Das Analyse-Modul wird als Option in Metrolog XG angeboten. Diese Option erlaubt es Punktewolken mit hoher Dichte zu verarbeiten. Die Punktewolken können von externen Programmen importiert oder direkt an einem Messsystem erzeugt werden.
Funktionsbeschreibung